KLA Instruments Webinar
利用Zeta-20 三维光学轮廓仪进行高深宽比应用的表面形貌表征
高深宽比应用如深槽等样品对于需要表面表征技术都是一个挑战。对于接触式台阶仪，高深宽比的应用通常已经超过了探针本身的能力或是接触式台阶仪Z方向的测量范围。Zeta-20 光学轮廓仪提供了一种测量高深宽比样品深度的方法。在本次网络研讨会中，您将发现对于高深宽比和深槽等类似应用的非接触式光学解决方案。
利用Zeta-20 三维光学轮廓仪进行高深宽比应用的表面形貌表征
高深宽比应用如深槽等样品对于需要表面表征技术都是一个挑战。对于接触式台阶仪，高深宽比的应用通常已经超过了探针本身的能力或是接触式台阶仪Z方向的测量范围。Zeta-20 光学轮廓仪提供了一种测量高深宽比样品深度的方法。在本次网络研讨会中，您将发现对于高深宽比和深槽等类似应用的非接触式光学解决方案。
You've selected to view this site translated by Google Translate.
KLA China has the same content with improved translations.
Would you like to visit KLA China instead?
您已选择查看由Google翻译翻译的此网站。
KLA中国的内容与英文网站相同并改进了翻译。
你想访问KLA中国吗？
如果您当前是KLA员工，请通过My Access上的KLA Intranet进行申请。