SEMICON Korea

SiP Conference China 2018 (Shenzhen) Logo

KLA将在SEMICON Korea 2019上发表两个演讲:“量测和检测的系统集成化方法”(Poh-Boon Yong)和“使用无图案晶圆检测实现EUV材料缺陷认证”(Ming Li)。 这两个演讲都是2019年1月24日星期四的量测与检测论坛的一部分

SEMICON Korea 2019将展示最新的半导体材料,设备和相关技术。 包括半导体技术研讨会,市场研讨会,供应商搜索计划和网络活动,以交流最新信息。

活动日期 2019年1月23日,星期三
2019年1月24日,星期四
2019年1月25日,星期五
活动地点 COEX, 首尔, 和韩国
活动详细

KLA-Tencor 正式更名为KLA

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