半导体是技术创新的核心

半导体是当今汽车创新的核心,能够控制和监控车辆的关键任务组件,包括基本操作和效率,安全性,先进的驾驶员辅助系统,信息娱乐以及逐渐提高的自动驾驶功能。 现代汽车中有数千个IC芯片,它们的可靠性已成为汽车制造商的首要关注点。要进入不断增长的汽车市场 - 或者只是维持份额 - IC制造商必须积极应对芯片可靠性的要求。 由于芯片可靠性与随机缺陷高度相关,有效的缺陷减少策略将帮助生产出具有更高可靠性的芯片。

持续改进计划

持续改进计划(CIP)通过对未经图案化的晶圆缺陷检测来识别导致缺陷的特定制程设备。通过执行设备监控CIP,汽车工厂可以设定客观的目标,以减少影响可靠性的制程缺陷。

Surfscan® 系列

零缺陷筛选

通过零缺陷筛选,晶圆厂在每一步关键制程中监控所晶圆上100%的晶片。检测设备能快速,足够灵敏并且可靠地识别出哪些缺陷就变得很重要。 通过这种方法,可以在成本最低的工厂中从供应链中移除可能失效的芯片。

8 系列

认证与翻新

先进设计节点转型

机器视觉和AI等功能,需要先进的IC芯片,晶圆厂必须为先进的设计节点设备保持更高的良率和质量标准。这就要求发现所有系统缺陷源头,秉承“每个缺陷都很重要”的理念来提高量产良率。

39XX 系列

29XX 系列

eDR7200™ 系列

I-PAT™

I-PAT(在线缺陷部件平均测试)是一种新方法,允许汽车制造商降低半导体电子元件中潜在可靠性缺陷的发生率,识别有风险的芯片以排除供应链并降低模具逃逸的发生率 这将从晶圆厂过早失败。 (I-PAT专利申请中)

汽车车间

KLA提供研讨会来帮助半导体晶圆厂、供应商和OEM厂商了解减少潜可靠性缺陷最有效的方法。

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KLA设备服务

找到与可靠性相关的所有缺陷需要处于峰值运行状态的检查员。 KLA 设备服务团队提供专业知识,为高度复杂的检测系统提供服务,确保汽车制造厂以高灵敏度实现所需的正常运行时间。

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